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RE: Caracterización óptica de nanocristales Semiconductores
Hola @viannis gracias por tu comentario. La elipsometría espectroscópica es una tecnica experimental que determina las propiedades ópticas. Y si podemos mediante su estudio determinar la brecha de energía fundamental de un semiconductor. Pero eso no es todo, sino que, a traves de este estudio podemos conocer toda la estructura de bandas del semiconductor. En definitiva, esta técnica es mucho mas general.