You are viewing a single comment's thread from:

RE: CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) DE UNA SOLUCIÓN SÓLIDA SUSTITUCIONAL DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR Fe2-2XMn2XGeSe4

in #stem-espanol • 8 years ago

Amigo, se aprecia el esfuerzo que haces por compartir tus conocimientos. Algunos tomamos de la comunidad para aplicarlo en nuestro trabajo. Saludos

8 years ago in #stem-espanol by
$0.00
    Reply 1
    Sort:  
  • Trending
    • [-]
     8 years ago 

    Saludos @marynes5, muchas gracias por su comentario. Cualquier duda o consulta sobre el tema estamos a la orden

    $0.00
      Reply

      Coin Marketplace

      STEEM 0.06
      TRX 0.32
      JST 0.059
      BTC 66377.94
      ETH 1997.16
      USDT 1.00
      SBD 0.49